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Octobre 2021
4 - 8 octobre 2021
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ESREF 2021 : 32nd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2021

MCE - Microsystèmes et Composants Electroniques
ESREF 2021 : 32nd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2021 Le 32ème symposium Européen sur la fiabilité et l’analyse de défaillance des dispositifs électroniques se tiendra en distanciel entre le 4 et le 8 octobre 2021. Cet évènement sera l’occasion de réunir des participants issus de la communauté internationale pour échanger sur les développements récents et futurs pour la fiabilité et l’analyse des composants micro ...
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  • Accessible via visioconférence
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Octobre 2020
20 octobre 2020
de 09H30 à 12H00
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Le packaging au cœur de la mobilité de demain : Innovation des modules de puissance

MCE - Microsystèmes et Composants Electroniques
L’IRT Saint Exupéry, l’Aerospace Valley, le CEA Tech et la COMET-MCE du CNES ont le plaisir de vous convier à un atelier sur l’innovation des modules de puissance,   le 20 octobre prochain à Toulouse, de 9h30 à 12h en webinaire.   Objectif : Appel à manifestation d’intérêt – Identifier les besoins industriels fédérateurs   Afin d’alimenter les discussions de cette matinée, merci de compléter la slide PowerPoint en bas de cette page et de la ...
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  • Accessible via visioconférence
  • Accès limité
14 - 15 octobre 2020
de 09H00 à 12H00
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NRTW 2020 - National Reliability Technology Workshop

MCE - Microsystèmes et Composants Electroniques
Changement de programme L'évènement aura lieu en webconférence Accès gratuit et Inscription obligatoire en ligne   La COMET MCE vous propose de participer à 2 journées "NRTW - National Reliability Technology Workshop" sur les thématiques suivantes : Le mercredi 14 octobre : La fiabilité du SiC pour des applications de Puissance / HVDC / Montée en tension Programme du 14 octobre  13h30 - 19h30    9h00 à 11h00   Le Jeudi 15 octobre : Le futur des technologies ...
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  • Accès limité
Septembre 2019
23 - 26 septembre 2019
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ESREF 2019 - European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis

MCE - Microsystèmes et Composants Electroniques
  ESREF 2019, the 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, has taken place in Toulouse (France) from 23th to 26th September 2019 at Centre de Congrès Pierre Baudis. This international symposium continues to focus on recent developments and future directions in Quality and Reliability Management of materials, devices and circuits for micro-, nano-, and optoelectronics. It provides a European forum for developing all aspects of reliability ...
  • Centre de Congrès Pierre Baudis, Toulouse, France
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Mai 2019
16 mai 2019
de 08H45 à 17H30
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Séminaire : Avancées sur les assemblages et brasures sans Plomb

MCE - Microsystèmes et Composants Electroniques
  Les COMETs Microsystèmes et Composants Electroniques (MCE) et Matériaux (MAT) du CNES ont proposé un séminaire sur les avancées réalisées par l'industrie et la recherche au sujet des assemblages et brasures sans Plomb. Les objectifs de ce séminaire étaient multiples : Faire rencontrer les acteurs des mondes industriel et universitaire, Partager sur les technologies aujourd’hui en phase d’étude et de R&D, Échanger sur les techniques de fabrication et de mise en oeuvre de ces ...
  • CLS - Ramonville, Ramonville-Saint-Agne, France
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